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計(jì)算機(jī)硬件工程師考試模擬試題及答案
在日常學(xué)習(xí)和工作生活中,我們都要用到試題,借助試題可以更好地對被考核者的知識才能進(jìn)行考察測驗(yàn)。什么類型的試題才能有效幫助到我們呢?下面是小編整理的計(jì)算機(jī)硬件工程師考試模擬試題及答案,供大家參考借鑒,希望可以幫助到有需要的朋友。
計(jì)算機(jī)硬件工程師考試模擬試題及答案 1
一、單選題 (共計(jì)23題,每題2分,共計(jì)46分)
1、筆記本計(jì)算機(jī)目前標(biāo)配的PCMCIA接口大多數(shù)支持( )卡。
A.Type I
B.Type II
C.Type III
D.以上都可以
2、逆變器的作用是將整流后的直流電變?yōu)椋?)。
A.方波電壓
B.正弦波電壓
C.高頻交流電
D.低頻交流電
3、AMD 公司的移動Althlon 64-M處理器是AMD公司推出的第一款( )CPU。
A.超低功耗
B.64位
C.超級流水線技術(shù)
D.8MB緩存
4、BIOS和CMOS RAM是系統(tǒng)中兩個(gè)完全不同的部分,即BIOS的部分信息通過( )寫入CMOS RAM。
A.SETUP程序
B.Install程序
C.Program程序
D.Debug程序
5、ICH4-M芯片的信號PME#功能是( )
A.PCI鎖信號
B.DMA請求信號
C.PCI復(fù)位信號
D.電源管理
6、若顯示屏顯示"Fan error"錯(cuò)誤信息時(shí),應(yīng)該檢測計(jì)算機(jī)的()
A.CPU風(fēng)扇
B.內(nèi)存
C.顯卡
D.計(jì)時(shí)器
7、IBM筆記本計(jì)算機(jī)進(jìn)入BIOS的方式是冷開機(jī)時(shí)按()鍵。
A.F1
B.F2
C.F8
D.F10
8、Mini PCI的.RST#信號在開機(jī)過程中會產(chǎn)生( )的跳變。
A.低-高-低
B.高-低-高
C.高-低-保持
D.低-高-保持
9、PS/2鍵盤接口出現(xiàn)故障,需要檢測的信號有( )。
A.電源、時(shí)鐘、地址信號
B.電源、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)信號
C.電源、數(shù)據(jù)信號、地線
D.地線、電源、時(shí)鐘
10、LCD燈管的啟動電壓最低值在( )V以上。
A.10
B.100
C.1000
D.10000
11、如果筆記本計(jì)算機(jī)的電池?fù)p壞,最好的方法是更換電池組內(nèi)損壞的電池。
A.對
B.錯(cuò)
12、筆記本計(jì)算機(jī)DDRII內(nèi)存的工作電壓是( )。
A.5V
B.3.3V
C.2.5V
D.1.8V
13、若主板不能加電,首先應(yīng)檢測的電路是( )。
A.復(fù)位電路
B.軟開機(jī)電路
C.+3.3V和+5V供電電路
D.CPU供電電路
14、貼片電阻器阻值標(biāo)識是106,它的實(shí)際阻值是( )歐姆。
A.10,000,000
B.100,000
C.100,000,000
D.1000,000,000
15、半導(dǎo)體三極管的放大條件是( )。
A.發(fā)射結(jié)正偏,集電結(jié)反偏
B.發(fā)射結(jié)正偏,集電結(jié)正偏
C.發(fā)射結(jié)反偏,集電結(jié)正偏
D.發(fā)射結(jié)反偏,集電結(jié)反偏
16、集成運(yùn)算放大器主要用于模擬計(jì)算機(jī)進(jìn)行( )電路的運(yùn)算。
A.放大
B.數(shù)學(xué)
C.乘法
D.加法
17、將若干片中規(guī)模集成電路計(jì)數(shù)器串聯(lián)后,總的計(jì)數(shù)容量為每片計(jì)數(shù)容量的( )。
A.和
B.差
C.積
D.1倍
18、( )可以作為交流放大電路的耦合電路。
A.低通濾波器
B.高通濾波器
C.帶通濾波器
D.帶阻濾波器
19、純錫的熔點(diǎn)是( ),純鉛的熔點(diǎn)是( )
A.232°C,327°C
B.327°C,232°C
C.183°C,250°C
D.250°C,183°C
20、采用帶引線的塑料芯片載體封裝,外形呈正方形,32腳封裝的技術(shù)叫( )
A.DIP 封裝。
B.PLCC封裝。
C.QFP 封裝
D.PGA封裝
21、指針式萬用表使用完畢時(shí)應(yīng)將檔位開關(guān)置于( )
A.空檔或最高電壓檔
B.電流檔
C.歐姆檔
D.二極管檔
22、數(shù)字示波器雙蹤顯示時(shí),觸發(fā)源選擇短周期信號、或是幅度稍小的信號。( )
A.對
B.錯(cuò)
二、多選題 (共計(jì)8題,每題3分,共計(jì)24分)
1、筆記本計(jì)算機(jī)適配器選購時(shí)主要考慮的因素有( )。
A.輸入電壓
B.輸出電壓
C.接口外形
D.輸出電流
E.外形
2、在筆記本計(jì)算機(jī)電路中MAX1904芯片正常情況下輸出( )V電壓。
A.+3.3
B.+5
C.+12
D.-5
3、在檢測筆記本計(jì)算機(jī)BIOS電路時(shí),主要檢測的控制信號有( )。
A.CS#
B.OE#
C.WE#
D.CLK
E.RST#
4、由14.318MHz晶振提供工作時(shí)鐘的部件有( )。
A.Mini PCI
B.硬盤
C.內(nèi)存
D.南橋芯片
5、可以采用DMA方式工作的設(shè)備和總線有( )。
A.IDE
B.軟驅(qū)
C.PCI總線
D.AGP總線
6、若串行接口出現(xiàn)故障一般應(yīng)檢測( )芯片是否工作正常。
A.并行接口給信號供電的提拉電阻
B.緩沖器(如MAX3243)
C.I/O芯片
D.南橋
7、更換筆記本計(jì)算機(jī)LCD燈管時(shí),需要考慮的因素有( )。
A.LCD的型號
B.燈管的安裝位置
C.管徑
D.屏幕大小
8、鍵盤采用的內(nèi)部結(jié)構(gòu)有( ).
A.機(jī)械式
B.電容式
C.塑料薄膜式
D.導(dǎo)電橡膠式
試題答案:
一、單選題
二、多選題
計(jì)算機(jī)硬件工程師考試模擬試題及答案 2
1.單選題:
筆記本計(jì)算機(jī)目前標(biāo)配的PCMCIA接口大多數(shù)支持【B.Type II】卡。
2.選擇題:
清潔顯示器的正確方法是(A.使用軟布輕輕擦拭顯示器表面)。
3.判斷題:
SATA硬盤的數(shù)據(jù)傳輸速度通常快于PATA硬盤。(正確)
4.簡答題:
問題:什么是RAID技術(shù)?請簡述RAID 0和RAID 1的區(qū)別。
答案:RAID(Redundant Array of Independent Disks)技術(shù)是一種將多個(gè)磁盤組合在一起,以提高數(shù)據(jù)讀寫速度、增加存儲容量或提升數(shù)據(jù)冗余性的方法。RAID 0通過數(shù)據(jù)條帶化提高讀寫速度,但不提供數(shù)據(jù)冗余,一旦一個(gè)磁盤損壞,所有數(shù)據(jù)都會丟失。而RAID 1則是鏡像配置,數(shù)據(jù)在兩個(gè)磁盤上同時(shí)寫入,提供了完整的數(shù)據(jù)冗余,但存儲容量僅為總磁盤容量的'一半。
5.填空題:
在CPU中,寄存器用于暫時(shí)存放參加運(yùn)算的數(shù)據(jù)和得到的中間結(jié)果。
6.問答題:
問題:請解釋DDR4內(nèi)存相比DDR3內(nèi)存的主要改進(jìn)之處。
答案:DDR4內(nèi)存相比DDR3內(nèi)存,主要改進(jìn)包括更高的數(shù)據(jù)傳輸速率、更低的電壓(通常為1.2V對比DDR3的1.5V),更大的容量支持、更好的電源管理和更高的效率,以及增強(qiáng)的信號完整性設(shè)計(jì)等。